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霍梅尔 - 艾达米克 T8000 SC
同时测量粗糙度和轮廓
T8000 SC测量仪配置了分辨率极高的探测系统，同时测定粗糙度和轮廓。几何参数以及粗糙度特征数据在一个流程中评价。此测量系统性价比优秀，具备的测量功能和能力可以和复杂的试验室测量系统媲美。
霍梅尔 - 艾达米克 T8000 SC测量仪一览
技术亮点
针对不同的测量任务，磁性测头臂支架保证了测头臂的更换迅速、简单、可靠
配置了wavecontourTM surfscan探测系统的粗糙度轮廓组合仪正在测量滚珠丝杆
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型号 |
T8000 SC120 |
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探测系统 |
粗糙度和轮廓组合测量，带感应探测系统 |
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测量范围 |
6mm |
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最小分辨率 |
6nm |
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探测力 |
±1 mN - 20mN，手动 |
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探头臂识别 |
- |
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探测力设定 |
手动 |
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外/内探测 |
- |
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测量行程限制 |
可机械预调 |
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测头臂 |
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长度（标准） |
76mm |
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探测头 |
金刚石2um/60° 红宝石球头φ1mm 硬质合金20um |
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紧固方式 |
带防撞保护的磁性支架 |
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进给 |
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测量范围
（探测距离） |
120mm |
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分辨率 |
0.1um |
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测量速度 |
0.1-3mm/s |
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定位速度 |
最大3mm/s |
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直线导轨 |
≤0.4um/120mm |
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测量立柱 |
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行程 |
400mm |
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自动找零功能 |
在Z-方向可通过程序设定 |
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运行速度 |
0.1-12mm/s |
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重复定位精度 |
≤50um |
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测量位置 |
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硬岩石板
（长x宽x高） |
780x500x100mm |